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混沌電路電容參數(shù)的選擇優(yōu)化
通過測試蔡氏電路中關鍵元件的電壓特性關系,給出了混沌電路穩(wěn)定出現(xiàn)八倍周期分岔現(xiàn)象時電路對元件性能的要求. 實驗發(fā)現(xiàn)相移電容的電壓穩(wěn)定性是實驗的關鍵.
作 者： 王宇清 楊文明 WANG Yu-qing YANG Wen-ming 作者單位： 上海交通大學,物理實驗中心,上海,200240 刊 名： 物理實驗 PKU 英文刊名： PHYSICS EXPERIMENTATION 年，卷(期)： 2009 29(2) 分類號： O415.5 TN710 關鍵詞： 蔡氐電路 混沌 倍周期 電容-電壓特性【混沌電路電容參數(shù)的選擇優(yōu)化】相關文章：
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